Xác định hàm lượng vàng bằng phương pháp huỳnh quang tia X tại Trung tâm Ứng dụng và Dịch vụ khoa học công nghệ tỉnh Quảng Ngãi

Thứ hai - 01/07/2024 22:04 110 0
Kỹ thuật phân tích hàm lượng vàng bằng phương pháp huỳnh quang tia X được thực hiện theo nguyên lý khi bị tác động bởi một chùm bức xạ tia X (bức xạ sơ cấp) có năng lượng thích hợp từ ống phát xạ tia X hoặc từ nguồn đồng vị phóng xạ, các điện tử của lớp trong (lớp K, L, M) của các nguyên tố có trên bề mặt mẫu bị kích thích lên trạng thái năng lượng cao hơn. Khi trở về trạng thái cơ bản ban đầu sẽ phát ra bức xạ tia X thứ cấp (bức xạ huỳnh quang đặc trưng) với năng lượng và bước sóng đặc trưng cho mỗi nguyên tố và cường độ của bức xạ tia X thứ cấp tỷ lệ với mật độ (hàm lượng) của nguyên tố đó.
Máy quang phổ huỳnh quang tia X tại Trung tâm.
Máy quang phổ huỳnh quang tia X tại Trung tâm.
Bằng cách xác định cường độ bức xạ của tia X thứ cấp theo bước sóng đặc trưng [Huỳnh quang tia X phân tán theo bước sóng (WD-XRF)] hoặc theo mức năng lượng đặc trưng [Huỳnh quang tia X phân tán theo năng lượng (ED-XRF)], tương ứng với nguyên tố cần phân tích để xác định hàm lượng của nguyên tố đó.
Chứng nhận đăng ký hoạt động thử nghiệm đối với sản phẩm vàng, trang sức mỹ nghệ.

Việc phân tích theo nguyên lý phân tán theo bước sóng (WD-XRF) hoặc phân tán theo năng lượng (ED-XRF) được thực hiện nhờ cấu trúc, hệ thống quang học và đầu dò của thiết bị phân tích tương ứng. Ưu điểm chính của việc sử dụng thiết bị phát xạ huỳnh quang tia X này là phân tích không phá hủy mẫu, có khả năng xác định hàm lượng vàng với độ chính xác cao đáp ứng được yêu cầu của Thông tư 22/2013/TT-BKHCN và cho kết quả trong thời gian nhanh, khoảng 15 - 20 phút/mẫu.
Đáp ứng năng lực thử nghiệm

Thiết bị huỳnh quang tia X xác định hàm lượng vàng tại Trung tâm Ứng Dụng và Dịch vụ khoa học công nghệ tỉnh Quảng Ngãi được sản xuất tại nước Đức, hãng BRUKER, Kiểu: M1 Mistral SDD, Phạm vi đo: (0 = 99,99) % Au; Độ phân giải: 0,01 % Au. Các thử nghiệm viên đã được đào tạo và cấp giấy chứng nhận hoàn thành khóa đào tạo Thử nghiệm viên xác định hàm lượng vàng trang sức mỹ nghệ trên thiết bị huỳnh quang tia X (XRF) theo TCVN 7055: 2014.
Chỉ định thực hiện thử nghiệm xác định hàm lượng vàng trang sức, mỹ nghệ tại Trung tâm.
 
Phòng Thử nghiệm tại Trung tâm được Văn phòng Công nhận chất lượng đánh giá và công nhận phù hợp với yêu cầu của ISO/IEC 17025:2017 - Yêu cầu chung về năng lực các phòng thí nghiệm hiệu chuẩn. Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng quyết định chỉ định thực hiện việc thử nghiệm xác định hàm lượng vàng trang sức, mỹ nghệ bằng phương pháp huỳnh quang tia X theo quy định tại Thông tư số 22/2013/TT-BKHCN của Bộ trưởng Bộ Khoa học và Công nghệ Quy định về Quản lý đo lường trong kinh doanh vàng và quản lý chất lượng vàng trang sức, mỹ nghệ lưu thông trên thị trường. (Quyết định số 133/QĐ-TĐC ngày 20/01/2021 của Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng về việc chỉ định tổ chức đánh giá sự phù hợp); Giấy chứng nhận đăng ký hoạt động thử nghiệm đối với sản phẩm, hàng hóa vàng trang sức, mỹ nghệ (Số: 1356/TĐC-HCHQ ngày 17/4/2024 của Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng).

Tác giả: KHCN TTUD&DV

 Từ khóa: trung tâm, kỹ thuật, thực hiện, phương pháp, huỳnh quang, tia x, phân tích, nguyên lý, tác động, sơ cấp, năng lượng, thích hợp, phát xạ, đồng vị, phóng xạ, nguyên tố, kích thích, trạng thái, trở về, cơ bản, ban đầu

Tổng số điểm của bài viết là: 5 trong 1 đánh giá

Xếp hạng: 5 - 1 phiếu bầu

  Ý kiến bạn đọc

Tin mới
Bạn đã không sử dụng Site, Bấm vào đây để duy trì trạng thái đăng nhập. Thời gian chờ: 60 giây